汽車(chē)中的EMI/EMC測(cè)試方案

點(diǎn)擊數(shù)：41122018-08-02 09:07:43　來(lái)源: 重慶哥爾摩科技有限公司、電波暗室、電磁兼容暗室、汽車(chē)電子暗室、EMI系統(tǒng)測(cè)試、EMS系統(tǒng)測(cè)試、EMC測(cè)試附件、EMC測(cè)試天線(xiàn)

EMI測(cè)試挑戰(zhàn)

? EMI 診斷是件痛苦的工作. 工程師需要找到噪聲源的根本原因來(lái)解決它.

? 診斷處理由改變器件來(lái)解決.

? 切割PCB線(xiàn)& 重連直到找到噪聲源.

? 難以定位模擬和/或數(shù)字信號(hào)的哪個(gè)點(diǎn).

? 當(dāng)設(shè)備發(fā)射RF功率時(shí)，RF反而影響電路，可能明顯改變EMI信號(hào)

? 難以捕捉異常的EMI突發(fā).

? 需要實(shí)時(shí)SA具有長(zhǎng)時(shí)間的采集.

? 大多數(shù)頻譜儀不是實(shí)時(shí)的.

? 大多數(shù)實(shí)時(shí)頻譜儀是昂貴的，不方便.

EMI測(cè)試流程

EMC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)項(xiàng)目及內(nèi)容

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